Imaging of Matter
Innovative Technik macht subtile dynamische Prozesse sichtbar
17. Februar 2026

Foto: C. Ornelas-Skarin et al.
Valenzelektronen bestimmen, wie ein Kristall sich verhält: Sie beeinflussen die elektrische Leitfähigkeit, chemische Bindungen und die Wechselwirkung mit Licht. Allerdings ist es sehr schwierig, ihre genaue Anordnung und ihre Bewegung auf atomarer Skala direkt zu messen. In Physical Review X hat ein internationales Forschungsteam nun eine innovative Technik vorgestellt, die auf subtile dynamische Prozesse reagiert, die bislang nicht nachweisbar waren. Die Ergebnisse könnten bei der Entwicklung von Quantenmaterialien helfen, deren funktionelle Eigenschaften sich unter dem Einfluss von Licht verändern.
Die neue Technik baut auf dem Verfahren des X-ray–optical mixing (XOM) auf. Dabei bringt ein polarisiertes optisches Laserpulsfeld die Valenzelektronen zum Schwingen. Harte Röntgenstrahlen tasten gleichzeitig die zeitabhängige Elektronendichte mit Ångström-Auflösung ab. Weil das optische Feld vor allem die Valenzelektronen beeinflusst, hinterlässt diese Bewegung kleine, aber messbare Spuren im Röntgenstreusignal. Diese zeigen sich als schwache Seitenbänder nahe eines viel stärkeren Bragg-Peaks, der hauptsächlich von Kernelektronen dominiert wird.
Die Forschenden entwickelten jetzt einen deutlich empfindlicheren Aufbau, mit dem es ihnen gelang, die schwachen, wellenlängenverschobenen Seitenbänder sauber vom dominanten elastischen Signal zu trennen. Durch diesen Aufbau konnten sie ein Seitenband zweiter Ordnung in Silizium auflösen, also ein Signal, das man in klassischen optischen Messungen normalerweise nicht erwartet.
In makroskopischen optischen Experimenten führt die Symmetrie von Silizium dazu, dass nichtlineare Effekte zweiter Ordnung im Mittel wegfallen. Auf atomarer Ebene wird das Experiment empfindlich für winzige Asymmetrien, also sehr kleine, lokale Verschiebungen der Valenzelektronen entlang einzelner Bindungen. Die Forschenden interpretieren das beobachtete Seitenband zweiter Ordnung deshalb als direkten Hinweis auf bindungsrichtungsabhängige Elektronenbewegung, die optische Standardmethoden nicht sehen können.
Das gemessene Signal stimmt gut mit theoretischen Berechnungen aus ersten Prinzipien überein. Das stützt die Aussage, dass die Methode tatsächlich die optisch getriebene Valenzelektronendichte isoliert, ohne dass dafür zusätzliche Phaseninformation nötig ist. Über Silizium hinaus bietet der Ansatz einen neuen Zugang zu feinen elektronischen Ordnungsphänomenen und lichtinduzierten Zuständen in komplexeren Quantenmaterialien, sowohl nahe am Gleichgewicht als auch in stark angeregten, Nichtgleichgewichts-Situationen.
Die Kombination aus ultrakurzer optischer Anregung und atomar auflösenden Röntgensonden zeigt dabei exemplarisch, wie moderne Bildgebung versteckte Freiheitsgrade sichtbar machen kann, die über Materialfunktionen entscheiden.
Die Studie entstand in einer breiten internationalen Zusammenarbeit, unter anderem mit Teams am SLAC National Accelerator Laboratory und der Linac Coherent Light Source, an der Universität Hamburg und am Hamburg Centre for Ultrafast Imaging (CUI), am Karlsruhe Institute of Technology, an der Bar-Ilan University sowie an der Brandenburgischen Technischen Universität Cottbus, Senftenberg (BTU).
Zu den Mitwirkenden zählt Daria Gorelova, die vor ihrer Professur an der BTU als Juniorprofessorin an der Universität Hamburg und als Young Investigator Research Group Leader im Exzellenzcluster „CUI: Advanced Imaging of Matter“ forschte. Ihre Forschung verbindet Theorie aus ersten Prinzipien mit ultraschneller Dynamik und unterstützt so die enge Verzahnung von Theorie und Experiment.
Solche Kooperationen sind Teil der Forschungskultur am Exzellenzcluster, der interdisziplinäre Austausch aktiv lebt und Vielfalt in der Wissenschaft ernst nimmt. Dazu gehört auch, dass Nachwuchsforschende gezielt unterstützt werden und sichtbare Vorbilder entstehen, die besonders junge Wissenschaftlerinnen ermutigen können.
Originalpublikation
C. Ornelas-Skarin, T. Bezriadina, M. Fuchs et al.
Second-order microscopic nonlinear optical susceptibility in a centrosymmetric material: Application to imaging valence electron motion
Physical Review X 16, 011006 (2026)
Weiterführend
APS Physics Magazine Synopsis-Arikel von Rachel Berkowitz

